WebbEP0567520A1 EP92903128A EP92903128A EP0567520A1 EP 0567520 A1 EP0567520 A1 EP 0567520A1 EP 92903128 A EP92903128 A EP 92903128A EP 92903128 A EP92903128 A EP 92903128A EP 0567520 A1 EP0567520 A1 EP 0567520A1 Authority EP European Patent Office Prior art keywords sample voltage plasma frequency ion Prior art date … WebbDINISO115052024DE-Chemische Oberflächenanalyse - Allgemeine Verfahren zur quantitativen Tiefenprofilanalyse der Zusammensetzung mittels optischer Glimmentladung. Customer Service: 212 642 4980. Mon - Fri: 8:30 am - 6 pm EST. HOME; PRODUCTS. Publisher Collections; Standards Connect;

Oberflachenphysik des Festkoerpers - Martin Henzler, Wolfgang …

WebbDieses Dokument stellt einen Leitfaden zur Bulk- und Tiefenprofilanalyse mit optischer Glimmentladungsspektrometrie. Der Leitfaden ist nur für die Analyse von starren Festkörpern anwendbar und nicht für die Analyse von Pulver, Gasen oder Lösungen.*Die optische Glimmentladungs-Emissionsspektrometrie (GD-OES) wird zur Bestimmung der … WebbQuantitative Tiefenprofilanalyse mit der Elektronenstrahlmikrosonde: Entwicklung der Technik und Untersuchungen zur Diffusion von Gallium in ZnSe/GaAs Issue 399 of Fortschritt-Berichte der VDI.: Mess-, Steuerungs- und Regelungstechnik Issue 399 of Fortschrittberichte VDI / 8, Verein Deutscher Ingenieure, ISSN 0178-9546: chanzy puligny montrachet

Quantitative Auger depth profiling of LPCVD and PECVD silicon

WebbISO 16531 - 2013-06. We use cookies to make our website more user-friendly and to continually improve it. WebbQuantitative Tiefenprofilanalyse mit der Elektronenstrahlmikrosonde : Entwicklung der Technik und Untersuchungen zur Diffusion von Gallium in ZnSe, GaAs … chanzy stenay